單晶超聲波測厚儀和普通測厚儀相比在功能上有哪些明顯的特點(diǎn)？

更新時(shí)間：2021-03-03 | 點(diǎn)擊率：1067

單晶超聲波測厚儀（單晶超薄測厚型），采用脈沖反射超聲波測量原理，適用于超聲波能以一恒定速度在其內部傳播,并能從其背面得到反射的各種材料厚度的測量，測量分辨率高達0.001mm。此儀器可對各種板材和各種加工零件作準確測量，適合測量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導體的厚度，可被廣泛應用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個(gè)領(lǐng)域。

單晶超聲波測厚儀儀器特點(diǎn)：

●采用高精度計時(shí)芯片和V-PATH校準模型，實(shí)現準確測量，顯示分辨率高達0.001mm，可智能語(yǔ)音播報測量結果

●同時(shí)支持單晶探頭和雙晶探頭，既可對超薄工件進(jìn)行準確測量，又能兼顧常規大量程測量

●支持實(shí)時(shí)溫度補償，消除探頭溫度變化引起的測量誤差，探頭插入儀器后只需校準一次即可長(cháng)期使用，無(wú)需頻繁校準

●可進(jìn)行穿越涂層測量（0—1000μm），并同時(shí)測量涂層和基材厚度（高級版）

●內置藍牙模塊，可與PC機或智能終端設備進(jìn)行有線(xiàn)、無(wú)線(xiàn)數據傳輸，并可進(jìn)行無(wú)線(xiàn)打印

●支持實(shí)時(shí)在線(xiàn)測量、上位機指令控制（指令版）

單晶超聲波測厚儀主要功能：

●具有脈沖回波（P-E）、界面回波（I-E）和回波回波（E-E）多種測量方式，可進(jìn)行常規測量和穿越涂層測量（部分功能僅限高級版）

●多檔增益可調，可根據實(shí)際測量工件進(jìn)行設置，在不同場(chǎng)景下達到較佳測量效果

●具有上下限掃描、差值測量、超限報警等多種測量模式

●已知厚度可以反測聲速，以提高測量精度