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MEMD-2000 SF6密度繼電器校驗(yàn)儀干擾物質(zhì)

來源：djkluv.com 更新時(shí)間：2018-11-12

MEMD-2000 SF6密度繼電器校驗(yàn)儀干擾物質(zhì)
a.固體雜質(zhì)及油污。絕對不溶于水的固體雜質(zhì)不會(huì)改變氣體的露點(diǎn),但會(huì)妨礙對出露的觀測。在自動(dòng)儀器中,對鏡面污染如果沒有采用補(bǔ)償裝置,在低露點(diǎn)測量時(shí),有時(shí)會(huì)因鏡面上附著固體雜質(zhì)使測得的露點(diǎn)值偏高,這時(shí)需用適當(dāng)溶劑對鏡面人工清洗。為了防止固體雜質(zhì)的干擾,zui好在儀器入口設(shè)置不吸附水分的過濾器。
如果被測氣體中有油污,應(yīng)在氣體進(jìn)入測量室前除去。
b.以蒸氣形式存在的雜質(zhì)。如果氣體中以蒸氣形式存在的雜質(zhì)(如烴類)會(huì)先于水蒸氣而結(jié)露,或者氣體中含有能與水共同在鏡面上凝結(jié)的物質(zhì)(如甲醇),則必須先采取措施除掉。如果烴類的露點(diǎn)低于水蒸氣的露點(diǎn),則不會(huì)影響測定。通常在SF6的測定中,不需考慮蒸氣雜質(zhì)的干擾。
2)冷壁效應(yīng)。除冷鏡外,儀器其余部分和管道的溫度應(yīng)高于氣體露點(diǎn)至少2℃,否則水蒸氣將在zui冷點(diǎn)凝結(jié),從而改變氣體樣品中的水分含量。
3)流量控制。由于氣體露點(diǎn)和流量無關(guān),一般露點(diǎn)儀不要求準(zhǔn)確調(diào)節(jié)流量,但通常仍有一定范圍的限制。流量太小則響應(yīng)時(shí)間過長,太大既易引起制冷元件功率不足而影響鏡面降溫,又會(huì)在管線上產(chǎn)生壓力降,改變測量室內(nèi)的壓力,從而改變氣體的露點(diǎn)。
4)降溫速度。如果氣體濕度很低,冷卻鏡面時(shí)降溫速度應(yīng)盡可能慢。因?yàn)檫@時(shí)冰的結(jié)晶過程比較緩慢,若以不適當(dāng)?shù)乃俣冉禍?在冰層生長和達(dá)到穩(wěn)定之前,還沒有觀測到出露,溫度卻已大大低于露點(diǎn),這就是過冷現(xiàn)象。光電露點(diǎn)儀通常不能人工控制降溫速度,所以在低露點(diǎn)測量時(shí),儀器示值往往呈阻尼振蕩趨勢變化,需經(jīng)過較長時(shí)間才能穩(wěn)定。這就是露的凝結(jié)和消失滯后于溫度的變化而引起的。
5)帶壓測量。露點(diǎn)測量通常是在常壓下進(jìn)行的,即先將待測氣體減壓至常壓后再送入測量室,但如氣體濕度很低,有可能出現(xiàn)氣體露點(diǎn)低于儀器測量下限的情況。特別是在炎熱的夏季,高溫環(huán)境影響了儀器制冷系統(tǒng)能夠達(dá)到的zui低溫。在這種情況下,可進(jìn)行帶壓測量,提高測量室內(nèi)氣體的壓力,從而提高氣體的露點(diǎn)使其在儀器的測量范圍內(nèi),zui后再通過計(jì)算得到常壓下的露點(diǎn)。
通常露點(diǎn)儀測量室的進(jìn)出口各有一個(gè)流量閥,常壓測量時(shí),出口閥全開,用進(jìn)口閥控制流量并起減壓的作用,使測量室內(nèi)的壓力與大氣壓相等。帶壓測量時(shí),則進(jìn)口閥全開,用出口閥控制流量,此時(shí)流量室內(nèi)的壓力與取樣管道內(nèi)的壓力相等。要進(jìn)行帶壓測量,首先必須確定儀器允許在帶壓下工作,另外還需要比較準(zhǔn)確的知道管道內(nèi)氣體的壓力(如果儀器測量室內(nèi)不帶壓力傳感器)。
6)露點(diǎn)與霜點(diǎn)的區(qū)分。鏡面溫度在0--20℃時(shí),鏡面上的冷凝物可能是露(過冷試水),也可能是霜(冰),此時(shí)必須通過鏡面冷凝狀態(tài)觀察鏡仔細(xì)區(qū)別,因?yàn)橄嗤瑴囟认碌倪^冷水和冰的飽和蒸氣壓并不相同。一些適合現(xiàn)場使用的露點(diǎn)儀沒有觀察鏡,無法區(qū)分露和霜,在這種情況下一般當(dāng)作霜點(diǎn)處理。