超聲波局部放電檢測(cè)儀

來源：djkluv.com 更新時(shí)間：2020-08-21

超聲波局部放電檢測(cè)儀

產(chǎn)品概述
電氣設(shè)備檢修技術(shù)的發(fā)展大致可以分為三個(gè)階段，即故障檢修、定期檢修和狀態(tài)檢修，狀態(tài)檢修以可靠性為主，它是根據(jù)設(shè)備的狀態(tài)而執(zhí)行的預(yù)防性作業(yè)。作為電力系統(tǒng)運(yùn)行的首要要求，供電可靠性日益凸顯其重要性，因此狀態(tài)檢修逐步取代了以往的定期預(yù)防性檢修。狀態(tài)檢修通過對(duì)設(shè)備關(guān)鍵參數(shù)的測(cè)量來識(shí)別其已有的或潛在的劣化跡象，可在設(shè)備不停運(yùn)的情況下對(duì)其進(jìn)行狀態(tài)評(píng)估。
超聲波局部放電檢測(cè)儀

局部放電巡檢儀針對(duì)帶電巡檢的特點(diǎn)，采用高頻電流及超聲波兩種檢測(cè)法，其體積小，性能優(yōu)異，易于操作?？蓪?duì)電纜、變壓器（電抗器）等接地線進(jìn)行測(cè)量。本系統(tǒng)采用現(xiàn)代電子和計(jì)算機(jī)綜合技術(shù)，實(shí)現(xiàn)信號(hào)放大（模擬、電子、數(shù)字）、濾波、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)處理、圖形顯示、試驗(yàn)報(bào)告自動(dòng)生成，從而完成局部放電的測(cè)量、分析。

超聲波局部放電檢測(cè)儀引用標(biāo)準(zhǔn)
1.局部放電測(cè)量GB/T 7354
2.電力設(shè)備局部放電現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量導(dǎo)則 DL/T 417
3.高電壓試驗(yàn)技術(shù) 第一部分：一般試驗(yàn)要求 GB/T 16927.1
4.高電壓試驗(yàn)技術(shù) 第二部分：測(cè)量系統(tǒng) GB/T 16927.2
5.高電壓試驗(yàn)技術(shù) 第3部分: 現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)的定義及要求 GB/T 16927.3

超聲波局部放電檢測(cè)儀系統(tǒng)組成
本系統(tǒng)主要由以下幾部分組成
1.MOEORW-5009局部放電巡檢儀一臺(tái)。
2.主機(jī)充電器一套
3.HFCT-II高頻電流互感器1個(gè)。
4.HCCS-II超聲傳感器1個(gè)
5.BNC-SMA 50Ω同軸電纜2條。
6.HCTX-03無線同步發(fā)射器及電源線一套。
7.讀卡器1個(gè)。

超聲波局部放電檢測(cè)儀技術(shù)參數(shù)

主機(jī)參數(shù)
可檢測(cè)通道數(shù)	2個(gè)通道，1個(gè)MOEORW-5009通道，1個(gè)US通道
采樣精度	12bit
觸發(fā)方式	內(nèi)同步，外同步
HFCT參數(shù)
檢測(cè)帶寬	100K-50MHz
傳輸阻抗	>5mV/mA(10MHz )
輸出阻抗	50Ω
檢測(cè)靈敏度	5pC
測(cè)量范圍	-20~80dB
測(cè)量誤差	±1dB
分辨率	1dB
輸出接口	標(biāo)準(zhǔn)BNC
US參數(shù)
頻率范圍	20kHz-300kHz
輸出阻抗	50Ω
檢測(cè)靈敏度	0.1mV
測(cè)量范圍	0.1mV～1V
輸出接口	標(biāo)準(zhǔn)BNC
硬件
顯示屏	4.3” TFT真彩色液晶顯示屏
分辨率	480×272
操作	薄膜按鍵
存儲(chǔ)	SD卡標(biāo)配16G卡，zui大支持32G
接口	3.5mm立體聲耳機(jī)插孔
	DC-005低壓直流充電器輸入口
	充電LED指示燈
	RS232調(diào)試口
	USBD同步口
	USB2.0
	網(wǎng)口
	SD卡插槽
	CH1：SMA外部MOEORW-5009互感器輸入口
	US：SMA外部MOEORW-5009互感器輸入口
電源
內(nèi)部電源	電池供電（16.8V鋰電池）
正常工作時(shí)間	約7小時(shí)，充滿時(shí)間約5小時(shí)
尺寸
長(zhǎng)×寬×高		235mm×133mm×48mm
重量		0.85kg
環(huán)境
使用環(huán)境溫度		-20℃至50℃
存儲(chǔ)環(huán)境溫度		-40℃～70℃
濕度		10%-90%（非冷凝）
海拔高度		≤3000m