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檢測(cè)技術(shù)

微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀dv/dt閉鎖

來源：djkluv.com 更新時(shí)間：2020-08-03

MEJB-902F 微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀dv/dt閉鎖
這個(gè)測(cè)試頁(yè)與上文中的“df/dt閉鎖”很相似，區(qū)別在于每輪測(cè)試變化的是dv/dt值。下面只對(duì)它們的不同點(diǎn)做介紹。
1.dv/dt測(cè)試范圍
測(cè)試“dv/dt閉鎖值”時(shí)在此范圍內(nèi)逐點(diǎn)進(jìn)行試探測(cè)試，每次測(cè)試時(shí)電壓都從電壓變化始值下滑至終值，下滑的dv/dt值在該范圍內(nèi)逐點(diǎn)變化，試探至某一輪試驗(yàn)如果保護(hù)動(dòng)作，則測(cè)出dv/dt閉鎖的邊界值。
因?yàn)檠b置在大于整定的dV/dt閉鎖值時(shí)處于閉鎖狀態(tài)，所以，一般變化始值應(yīng)設(shè)置為大于裝置整定的閉鎖值，變化終值應(yīng)設(shè)置為小于裝置整定的閉鎖值。即試驗(yàn)從裝置不動(dòng)作做到動(dòng)作，從而測(cè)出裝置的dv/dt閉鎖值。
2.電壓變化范圍
為了模擬電壓下降的過程，一般應(yīng)設(shè)電壓的“變化始值”大于“變化終值”。同時(shí)，為了保證低周裝置不因低電壓而閉鎖，因此設(shè)置的電壓“變化終值”應(yīng)大于裝置定值菜單中整定的低電壓閉鎖值。
3.測(cè)試時(shí)df/dt值
在此測(cè)試單元里頻率總是按所設(shè)置的df/dt變化，因此設(shè)置df/dt時(shí)，應(yīng)保證其值小于裝置所整定的df/dt閉鎖值。